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ZETA電位·粒徑·分子量測系統(tǒng) ELSZ-2000ZS

特點(diǎn) 使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測量時(shí)間通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度追加了大范圍的分子量測量及解析功能...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的最高級機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。...
多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)·nanoSAQLA

● nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測定。另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。...
多樣品nano粒子徑測量系統(tǒng) nanoSAQLA（帶自動取樣器 AS50）

產(chǎn)品信息特點(diǎn) nanoSAQLA 的特點(diǎn) 1個(gè)單元可輕松連續(xù)測量5個(gè)樣品實(shí)現(xiàn)了在沒有自動進(jìn)樣器的情況下難以實(shí)現(xiàn)的多個(gè)樣品的連續(xù)測量，也可以通過改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測量。對應(yīng)瘦...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測系統(tǒng) ELSZ-2000ZS

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測量時(shí)間通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度追加了大范圍的分子量測量...
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE

本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的最高級機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的最高級機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。...
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE

本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能等...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS

●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。對電滲透流進(jìn)行實(shí)測，可通過最小容量130μL 微量可拋式樣品池實(shí)現(xiàn)...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測系統(tǒng) ELSZ-2000Z

產(chǎn)品特點(diǎn)：使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測量時(shí)間通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度追加了大范圍的分子量測量等...

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高速LED光學(xué)特性儀 LE series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號同步通過光纖的自由的測試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400）同以往的產(chǎn)品相比，測量、演算、評價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型測量...
光波動場三次元顯微鏡

MINUK可評價(jià)nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。
分光配光測量系統(tǒng) GP series

產(chǎn)品信息特殊長度支持長達(dá) 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量還支持有機(jī)EL和大型顯示器的光分布測量可以自動控制2軸測角儀測量每個(gè)角度的光譜分布，并通過球帶系數(shù)法獲得總...
MCPD series 嵌入式膜厚測試型

本公司的MCPD series，由于采用柔軟纖維的事，從In-Situ到內(nèi)聯(lián)各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測量原理為分光干涉方式，在實(shí)現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時(shí)，還支持多層厚度測量。通過采用獨(dú)自算法，可以高速實(shí)時(shí)監(jiān)控。...
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。...
相位差測量裝置 RETS-100nx New

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備測量項(xiàng)目...
顯微分光膜厚儀 OPTM series

測量項(xiàng)目：[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測量原理：[分光干涉法]. 測量對象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測量范圍：[1nm~92μm]....
膜厚量測儀 FE-300

產(chǎn)品信息特長薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能無復(fù)雜設(shè)定，操作簡單，短時(shí)...
嵌入式膜厚檢測儀

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用分光干涉法搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專利第4834847號）使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。實(shí)時(shí)測量膜厚可對應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測量...
線掃描膜厚儀【在線型】

采用線掃描方式檢測整面薄膜硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援實(shí)現(xiàn)高精度測量（已獲取專利）實(shí)現(xiàn)高速測量不受偏差影響可對應(yīng)寬幅樣...
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

即時(shí)檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性可進(jìn)行高速...
橢偏儀 FE-5000/5000S

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù) 可分析納米級多層薄膜的厚度可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜通過可變反射角測量，可詳細(xì)分析...
線掃描膜厚儀【離線型】

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援實(shí)現(xiàn)高精度測量（已取得專利）實(shí)現(xiàn)高速測量（500萬點(diǎn)...
小角激光散射儀 PP-1000

PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測，實(shí)時(shí)解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光Hv散射測量可以進(jìn)行光學(xué)各向異性的評價(jià)，解析結(jié)晶性薄膜的球晶半徑，偏光Vv散射測量可以進(jìn)行聚合物混合的相關(guān)距離的分析。...
高速相位差測量裝置 RE-200

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可測從0nm開始的低（殘留）相位差光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.) （相當(dāng)于世界最快速的0.1秒以下來處理）無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高設(shè)置的測量項(xiàng)目少，測量簡單...
MCPD series 在線評估測試系統(tǒng)

本公司的MCPD series在線膠卷評價(jià)系統(tǒng)，由于光學(xué)式非接觸·非破壞的膜厚，濃度，顏色等的檢查可能?？蓽y定膜厚范圍為65nm～92μm和薄膜到厚膜都對應(yīng)。（折射率1.5時(shí)）測量原理為分光干涉方式，在實(shí)現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時(shí)，還支持多層厚度測量。由于采用了獨(dú)自算法，可以高速實(shí)時(shí)監(jiān)控，所以作為在線膠片監(jiān)控，我們提出了最適合的系統(tǒng)。...
線掃描膜厚儀【在線型】

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用線掃描方式檢測整面薄膜硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援實(shí)現(xiàn)高精度測量（已獲取專利）實(shí)現(xiàn)高速測量不受偏差影響可對應(yīng)寬幅樣...
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800

產(chǎn)品信息特長應(yīng)用廣泛的測量儀。以最高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出最適合的方案。不同評價(jià)方法對應(yīng)不同設(shè)備 ◎...
彩色濾光片、彩色光刻膠測量裝置 LCF SERIES

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...
Load Port對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng) GS-300

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求支持槽口對齊功能小尺寸規(guī)格高精度自動校準(zhǔn)單元自動...
液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備測量項(xiàng)目...
嵌入式膜厚檢測儀

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用分光干涉法搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專利第4834847號）使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。實(shí)時(shí)測量膜厚可對應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測量...
顯微分光膜厚儀 OPTM series

●非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ●OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試，并有獨(dú)家專利可針對透明基板去除背面反射，從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測試的目的。此外，軟件操作簡單、使用方便且簡化了復(fù)雜的建模流程。...
液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備測量項(xiàng)目...
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。...
膜厚測量系統(tǒng) FE-3700/5700

產(chǎn)品信息特殊長度可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。用法 LCD ITO...
彩色濾光片、彩色光刻膠測量裝置 LCF SERIES

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...
用于透過率/吸光度測量的多通道光譜儀MCPD series

是從紫外到近紅外領(lǐng)域?qū)?yīng)的多功能多通道分光檢測器。最短5ms即可進(jìn)行光譜測量。標(biāo)準(zhǔn)裝置的光纖可支持各種測量系統(tǒng)，而無需確定樣品種類。以顯微分光、光源發(fā)光、透射、反射測定為首，通過與軟件的組合，也可以對應(yīng)物體顏色評價(jià)、膜厚測定等。...
高靈敏度光譜儀 HS-1000

特點(diǎn)：采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量，對應(yīng)CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng)降低了...
總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測量測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn) 采用新的探測器，可以進(jìn)行廣動態(tài)范圍的測量測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...
紫外分光輻射照度測量系統(tǒng) New

產(chǎn)品信息特征該檢測器是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項(xiàng)成果。覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍帶軟件的樣品照明電源...
紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

產(chǎn)品信息特征具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍具有紫外線自吸收校正的高精度測量配備溫度控制單元，可從-110C進(jìn)行溫度控制涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍電源、溫控單元、...
紫外分光配光測量系統(tǒng)

產(chǎn)品信息特征通過分光光度分布對紫外光進(jìn)行高精度測量從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開度、光束光通量涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用...
分光輻射照度測量系統(tǒng)

產(chǎn)品信息特殊長度該檢測器是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項(xiàng)成果。覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍...
高速LED光學(xué)特性儀 LE series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號同步通過光纖的自由的測試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400）同以往的產(chǎn)品相比，測量?演算?評價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型測量..
高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000

特點(diǎn)：采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量，對應(yīng)CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng)降低了...
量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 測量精度高可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）可去除再激勵熒光發(fā)光采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了...
高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng) QE-5000 New

產(chǎn)品信息特殊長度可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測量。傳統(tǒng)方法難以在輕溶劑中進(jìn)行測量...

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動態(tài)光散射的納米科技應(yīng)用——詳解Zeta電位的原理、測量及影響因素

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